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奥林巴斯OLYMPUS相控阵探伤仪

简要描述:OmniScan X3 64奥林巴斯OLYMPUS相控阵探伤仪
OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。

  • 产品型号:OmniScan X3 64
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-04-05
  • 访  问  量:1390

详细介绍

品牌OLYMPUS/奥林巴斯价格区间面议
仪器种类数字式产地类别进口
应用领域环保,化工,生物产业,能源,电子

OmniScan X3 64奥林巴斯OLYMPUS相控阵探伤仪


提前确认TFM(全聚焦方式)声波覆盖范围

声学影响图(AIM)工具可以基于您的TFM(全聚焦方式)模式、探头、设置和模拟反射体,即时提供灵敏度的可视化模型。

声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某个声波组(TFM模式)的效果图,使您看到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行相应的调整。

最多显示4种TFM模式,方便了缺陷的解读和定量

在同一个检测中使用不同的TFM(全聚焦方式)模式(声波组),使您更有希望探测到方向不规则的缺陷指示。OmniScan X3探伤仪可以最多同时显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,从而使您看到从不同角度生成的图像。来自每种模式的响应和特征,如:端部衍射、圆角凹陷和缺陷剖面,可被综合在一起进行分析,从而可以确认缺陷类型,并提高缺陷定量性能。


使用内置工具简化您的NDT(无损检测)工作流程

1. 扫查计划

执行步骤 1、2、3,在仪器上设置您的检测

2. 校准

使用内置工具进行*合规的校准

3. 采集

在检测过程中查看实时扫查结果

4. 分析

快速而自信地解读您的数据

实时TFM(全聚焦方式)包络处理

简化了缺陷的表征和定量

仪器*的包络处理功能可以生成高分辨率的TFM(全聚焦方式)图像。图中的信号指示干净、清晰,在背景噪声的衬托下,显得更加鲜明突出。最多可显示4种TFM(全聚焦方式)图像,有助于缺陷的解读和定量。

当精确度至关重要时

在更低的频率和更宽的带宽上清晰地观察

  1. 与32通道型号相比,64通道型号可在更宽的带宽上为更高和更低的频率提供更高的信噪比(SNR)。

  2. OmniScan X3 64探伤仪能够使用更大的脉冲宽度驱动更低的频率,可为复合材料等衰减性较强的材料提供更好的信号分辨率。

  3. 在C扫描中,64通道型号的更高分辨率和信噪比能够更精细地显示更多的特征,可使您在需要时获得更高的精确度。

OmniScan X3 64奥林巴斯OLYMPUS相控阵探伤仪技术参数:

型号OmniScan X3OmniScan X3 64
配置16:64PR16:128PR32:128PR64:128PR
应用腐蚀监测、管道完整性、手动PA/TFM、TOFD、小型管道多组高效薄焊缝、PA & TOFD、风力叶片制造、复合材料多组高效厚焊缝、PA & TOFD、奥氏体/CRA/异种金属焊缝、TFM多组高效极厚焊缝、PA和TOFD、奥氏体/CRA/异种金属焊缝、高效TFM、高温氢致腐蚀(HTHA)、高级应用开发
脉冲发生器(PA)16163264
接收器64128128128
TFM晶片323264128
UT通道(P/R)2222
最多2个(PA、UT/TOFD、TFM) 
或2个PA带1个TOFD
总共最多8个 
TFM:最多4个
总共最多8个 
TFM:最多4个
总共最多8个 
TFM:最多4个

带宽频率0.5 ~ 18 MHz0.2 MHz ~ 26.5 MHz
最大脉冲宽度(PA)500 ns1000 ns
电压PA40 V、80 V和115 V / 单极负极10 Vpp、20 Vpp、40 Vpp、80 Vpp、120 Vpp和160 Vpp / 双极方波脉冲
内部SSD存储容量64 GB1 TB
所有其他功能和规格*相同


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