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QNIX1500/1500型基本型/1500M记忆型
QNIX1500涂层膜厚仪集磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能于一身。
1. 钢铁材料上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。
2. 铝、铜、金等箔、带材料及纸张、塑料膜的厚度。
3. 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。
4. 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。
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德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产涂层测厚仪。早在公司创始人尼克斯(Dr.Nix)博士的父亲即开始研究涂层测厚仪。自发明世界上*台测厚仪以来,尼克斯家族经过几代人的努力,为测厚仪领域做出了杰出贡献。同时,也保持了技术。在仪器的精度和抗干扰性方面,注册了多项。成为当今涂层测厚仪的*优点。
QNix1500涂层测厚仪功能特点:
零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,确保准确测量。
无需校准:多数测厚仪除了校零外,还需要用准片进行调校。测量某一范围厚度,要用某一范围的准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,而且也会因准片表面粗糙失效,增大系统误差。
温度补偿:涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。
红宝石探头:探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通接触探头,其表面磨损后会带来很大的误差。
*的直流采样技术:使得测量重复性较传统交流技术有*的*和提高。
单探头量程大:0-5mm
尼克斯Qnix1500膜厚仪的技术参数:
技术参数 | |
磁性基体 | Fe探头(QNix1200/1500) |
非磁性基体 | NFe探头(QNix1500型) |
测量范围 | QNix1200型 : 0-2000um QNix1500型 : 0-5000um |
精度 | 0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%读数 1000-3000um≤±3% |
zui小接触面 | 10×10mm |
zui小曲率半径 | 凸面:5mm 凹面:25mm |
zui小基体厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
温度补偿范围 | 0-60℃ |
显示 | LCD液晶 |
探头 | 红宝石固定式 |
电源 | 1×9V电池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
特点 | 直角设计方便测量管内壁 |
存储 | 1500记忆型可存储数据 |
数据传输 | 1500记忆型可连接计算机 |
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