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FISCHER新型FMP30-40膜厚仪
新的FMP30-40系列比标准型号FMP10-20更加通用。这些工具集成了其他特性，如为许多应用程序提供更多内存以及广泛的统计和图形评估。公差限值可以输入到可校准的应用中，生产过程可以统计分析。默认模式可以切换为矩阵模式，用于连接的多点测量。这些只是下面描述的众多特性中的一小部分。
根据您的测量应用程序中,您可以根据磁感应的涂层厚度测量方法(DELTASCOPE®FMP30),涡流方法(同位素探伤仪®FMP30)或根据这两种方法结合在一个乐器(DUALSCOPE®FMP40)。您将能够使用各种类型的费舍尔插件类型探针来度量大多数标准或特殊的应用程序。
主要特性：
自动基础材料识别(FMP40)。
可存储多达20000个读数
多达100个可校准的应用程序
可将读数分配至4,000个区块
统计显示块中的公共特征值和终结果。特征方差分析值的输出
图形测量显示为带有高斯图的直方图
能够显示工艺公差范围，并计算相关工艺性能指标cp和cpk
当超过极*，可发出声音和视觉警告
外键触发测量采集，如在直径较小的空心圆筒中采集
通过未知涂层校准的选项(只有磁感应法)
能够启用矩阵测量模式的连接多点测量
平均测量数据的能力:只存储几个读数的平均值
测量采集可通过区域测量实现:只采集单个读数，直到探测发射被捕获并平均
 | Deltascope®FMP30 以及钢和铁上的油漆、漆、搪瓷或塑料涂层。 用于铝上的阳极涂层以及非导电材料上的导电涂层。 这个通用仪器能够测量铁和钢、非铁磁性金属和非导电材料上的许多涂层。 |
所有仪表的电源:4节AA电池或可充电电池组
(1)EΔ涡流方法
(2)MΔ磁感应方法
(3)通过交流电源补充
注意:所有探测±1%的测量值或±。04密耳(1我¼m)哪个更大。
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