费希尔测厚仪xdl 210

费希尔测厚仪xdl 210

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪简介：凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。比较XUL和XUM仪器而言，XDL和XDLM系列仪器测量测量方向从上到下。它们被设计为用户友好的台式机，使用模块化结构，也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求.
           配备了可编程XY工作台的版本的XDL系列仪器可用于自动化系列测试。它可以很方便地扫描表面，这样就可以检查其均匀性。为了简单快速定位样品，当测量门开启时，XY工作台自动移动到加载位置，同时激光点指示测量点位置。对于大而平整的样品，例如线路板，壳体在侧面有开口(C形槽).由于测量室空间很大，样品放置方便，仪器不仅可以测量平面平整的物体，也可以测量形状复杂的大样品(样品高度可达140mm  .  Z轴可电动调整的仪器，测量距离还可以在0- 80 mm的范围内自由选择，这样就可以测量腔体内部或表面不平整的物体(DCM方法)。

特性：

• ■X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务
• ■由于测量距离可以调节（大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
• ■通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试
• ■使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

应用：镀层厚度测量

• ■大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
• ■电路板上较薄的导电层和/或隔离层
• ■复杂几何形状产品上的镀层
• ■铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
• ■氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
•  材料分析
• ■电镀槽液分析
• ■电子和半导体行业中的功能性镀层分析

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪设计理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。XDL210：平面样品平台，固定的Z 轴系统，吉馨仪器正规代理。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。

吉馨仪器拥有经验丰富的质量控制团队，各类性能优异，效率高，耐用性和成本效益高的测量仪器，广受客户青睐的进口仪器品牌，和正规代理资质。

型号说明：