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fischer x-ray xdl 230 菲希尔膜层测厚仪 由于采用了FISCHER*基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。XDL 230特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
Couloscope CMS2菲希尔库伦法涂层测厚仪 作为测量镀层厚度简单的方法之一，库仑法可以用于各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构， 当允许破坏性测量时，它提供了一个比X射线更经济的替代方法。 应用 强大并且用户友好的COULOSCOPE CMS2适用于电镀行业的生产监控和成品的质量检验。
Helmut Fischer铜箔测厚仪SR-SCOPE RMP30-S 根据微电阻方法EN14571: 2004，采用微处理器控制的手提式铜箔测厚仪。德国FISCHER菲希尔SR-SCOPE RMP30-S铜板测厚仪-------印制电路板铜厚的测量，该便携式设备采用 4 点电阻法
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